고정 커패시터의 검사 방법

게시일:

2023-02-22

1. 10pF 이하의 소형 커패시터 검사: 10pF 이하의 고정 커패시터는 용량이 너무 작아서 멀티미터로 측정할 경우, 누전 여부와 내부 단락 또는 절연 파괴 여부를 정성적으로만 확인할 수 있다. 측정 시에는 멀티미터의 R×10k 배율을 선택한 뒤, 두 검침봉을 커패시터의 두 단자에 임의로 접촉시키면 저항값이 항상 매우 높게 나타나야 한다. 만일 저항값(바늘이 오른쪽으로 움직이는 것)이 0으로 표시된다면, 이는 커패시터가 누전되어 손상되었거나 내부에서 절연 파괴가 발생했음을 의미한다.

　　1. 10pF 이하의 소형 커패시터 검사: 10pF 이하의 고정 커패시터는 용량이 너무 작아서 멀티미터로 측정할 경우, 누전 여부와 내부 단락 또는 파괴 여부를 정성적으로만 확인할 수 있다. 측정 시에는 멀티미터의 R×10k 배율을 선택한 뒤, 두 프로브를 커패시터의 두 단자에 임의로 접촉시키면 저항값이 항상 매우 높게 나타나야 한다. 만일 측정된 저항값(바늘이 오른쪽으로 흔들림)이 0으로 나타난다면, 이는 커패시터가 누전되어 손상되었거나 내부에서 파괴가 발생했음을 의미한다.

　　2. 10 pF~0.01 μF의 고정 커패시터 검사: 충전 현상의 유무를 통해 해당 부품의 양호 여부를 판별한다. 멀티미터는 R×1k 단을 선택한다. 두 개의 트랜지스터 모두 β값이 100 이상이며, 누설 전류가 작아야 한다. 3DG6 등과 같은 규소 트랜지스터를 사용하여 복합 트랜지스터를 구성할 수 있다. 멀티미터의 빨간색 및 검은색 프로브를 각각 복합 트랜지스터의 에미터(e)와 컬렉터(c)에 접속한다. 복합 트랜지스터의 증폭 작용으로 인해 측정 대상 커패시터의 충·방전 과정이 증폭되어 멀티미터 지침의 편차가 커지므로 관찰이 용이해진다.

　　유의해야 할 점은 다음과 같습니다: 측정 작업을 수행할 때, 특히 용량이 비교적 작은 커패시터를 측정할 경우에는 피측정 커패시터의 리드를 A와 B 두 지점에 반복적으로 교체하여 접촉시켜야만 멀티미터의 지침이 뚜렷하게 진동하는 것을 관찰할 수 있습니다. 001μF 이상의 고정 커패시터의 경우, 멀티미터의 R×10k 배율을 사용하여 직접 커패시터의 충전 과정 여부와 내부 단락 또는 누설 여부를 확인할 수 있으며, 또한 지침이 오른쪽으로 얼마나 크게 흔들리는지에 따라 커패시터의 용량을 대략 추정할 수 있습니다.

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